技术参数：
·光谱范围：190-2100 nm
·8种光斑尺寸: 小35 X 85 um
·探测器：3个独立探测器，分别优化紫外，可见和近红外
·自动样品台尺寸：200mm X 200mm；XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm
·样品水平度自动调整
·自动量角器：变角范围35°- 90°，全自动调整，小步长0.01°
主要特点：
·完全自动化设计，自动对焦、校正
·全新光路、电路设计，测量精度更高，速度更快
·50KHz高频PEM相调制技术，测量光路中无运动部件
·双光栅光谱仪系统，杂散光抑制水平高
·8个尺寸微光斑，可视技术
·自动平台样品扫描成像