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  • 日本Microphase 薄膜应力测量仪　　　　
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日本Microphase 薄膜应力测量仪　　　　 日本Microphase 薄膜应力测量仪　　　　

日本Microphase 薄膜应力测量仪　　　　

  • 采用非接触MOS激光技术；不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；并且这种设计始终保证所有阵列的激光光点始终在同一频率运动或扫描，从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响；同时大大提高了测试的分辨率；适合各种材质和厚度薄膜应力分析。

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日本Microphase 薄膜应力测量仪　　　　(图1)


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