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日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE 日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE

日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE

  • 世界级高精度光谱椭偏仪！可以精确测量折射指数、消光系数（n & K)，膜厚等，广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。著名客户包括US Army Research Lab，NASA，NIST，UC Berkeley，MIT，Harvard，Honeywell和Sharp Microelectronics等。

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日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE(图1)


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